详细摘要: Helios5PFIBDualBeam用于TEM样品制备(包括3D表征、横截面成像和微加工)的等离子体聚焦离子束扫描电子显微镜
产品型号:所在地:合肥市更新时间:2024-11-06 在线留言合肥帝帕特商贸有限公司
详细摘要: Helios5PFIBDualBeam用于TEM样品制备(包括3D表征、横截面成像和微加工)的等离子体聚焦离子束扫描电子显微镜
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